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銷售泰克 370A 晶體管測試儀

更新時間：2017-10-28點擊次數：4974

半導體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規格)TOP

非常適合測量不同類型半導體（包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管）的特性

zui大峰值電壓：3000 V（高電壓模式，適合所有型號）
zui大峰值電流：1000 A（CS-3300高電流模式）
所有型號均支持漏電流（LEAKAGE）測試模式（光標分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕圖像和設置條件）
LAN接口（遠程控制）
CS-3100、CS-3200、CS-3300


產品系列

 產品名稱型號備注
主機半導體特性曲線圖示儀CS-31003000V /無高電流模式- CS-301 / CS-500
半導體特性曲線圖示儀CS-32003000V / 400A（高電流模式）- CS-302 / CS-500
半導體特性曲線圖示儀CS-33003000V / 1000A（高電流模式）- CS-302 / CS-500
測試臺S型測試臺CS-301CS-3100標配
M型測試臺CS-302CS-3200 / CS-3300標配
測試適配器測試適配器CS-500主控裝置附送1個測試適配器
TO型測試適配器CS-501適用于TO型封裝（3個引腳）的插口
鱷魚夾小型鱷魚夾（紅色） x 10CS-001M型測試臺選件：CS-302
小型鱷魚夾（黑色） x 10CS-002M型測試臺選件：CS-302
軟件選件半導體參數搜索CS-800該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝
半導體參數測量CS-810主控裝置中裝有CS-800時，該選項可以在PC（可選）上使用。

用戶友好的測量屏幕

圖形配置屏幕晶體管V-I特性示例（跟蹤模式）
圖形配置選擇晶體管I-V特性示例（Trace模式）

大電流脈沖模式（波模式）下的Vbe和Ic波形
高電流脈沖模式（波模式）下的Vbe和Ic波形

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